北京微加工表面粗糙度测量仪器 创新服务 司逖测量供

STIL-司逖测量技术（上海）有限公司是光谱共焦测量方法，利用色差透镜偏差这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜，延长不同颜色光的焦点光晕范围，形成特殊放大色差，使其根据不同的被测物体到透镜的距离，会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上，北京微加工表面粗糙度测量仪器。通过测量反射光的波长，就可以得到被测物体到透镜的精确距离。这一过程与摄影器材通过各种方法，北京微加工表面粗糙度测量仪器，消减色差的过程正好相反。

为了得到上述特殊的色差，北京微加工表面粗糙度测量仪器，需要在传感器探头内使用若干特殊透镜，用来根据所需量程将光线分解。zui后使用一个凸透镜，将传感器探头射出的光线聚拢在一条轴线上，形成所谓的焦点轴线。如果不使用凸透镜，传感器探头射出的光将分散开来，测量也就无法进行了。

工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，STIL都可实现测量精密的测量方案。北京微加工表面粗糙度测量仪器

“点”传感器的相关产品介绍急术语解释：

光斑尺寸(Spot Size):指理论上的光斑尺寸，用于计算聚焦的波长（指示值）。

测量范围（Measuring Range，简称MR）:又叫测量行程，指0到比较大可量测值的区间范围。标定测量范围是针对上述表格中的特定控制器。在降低性能的情况下也可以加大标定的行程。

工作距离（Working Distance，简称WD）：是光学笔前端到量程近端的距离。

比较大采样斜率（Max.Sample slope，简称MSS）：是光轴和样品表面的法线之间的比较大角度，在此角度下测量依然有效。

北京段差测量仪器什么价格STIL完美解决测量位置错位问题，欢迎咨询。

STIL控制器介绍

CCS Optima+控制器

●测量频率：高达10K Hz

●高灵敏度，在多种样品上可以达到有效的高频率

●具备CCS系列控制器的所有优势

CCS Prima控制器

●当下行的光谱共聚焦控制器

●测量频率：高达2K Hz

●CCD光电探测器，即便有非常高的信噪比

●2通道和4通道。多通道型号可供选择（传输时间<400ms）

●具备CCS系列控制器的所有优势

STIL-VIZIR控制器

●高精度的比较好解决方案，非接触式晶片厚度测量

●近红外光谱带

●（测量频率）高达1K HZ

●距离和厚度模式

●数字输出：USB和RS232/RS422

●2个0V-10V的模拟输出

●同步读取3个外部数字编码器

●由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能

●长寿命光源，

●高级功能：“首要峰值”，“双倍频率”，“保持**终值”，时间平均......

近年来，随着工业化和城市化的快速发展，传感器以其高灵敏度和广 的应用受到越来越多的关注，如工业厂房排放监测、室内外环境污染检测、呼吸传感分析等领域，都需要用到各种气体传感器。同时，在物联网市场高速发展的背景下，传感器在智能家居、可穿戴设备、智能移动终端等领域的应用需求迅速增长。据相关报告显示，在全球市场中，传感器应用需求不断增长，2016-2021年将保持7.3%年均复合增长率上升，到2021年，全球气体传感器市场规模将达到9.2亿美元。司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。欢迎咨询！ 法国STIL光谱共焦传感器成了众多客户不可或缺的选择。

光谱共焦显微镜MC2视觉检测

      光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。

STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势

2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView

双重作用：

●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片

●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理

优势：

此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；

●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0.2X0.2μm²）；

●比较高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。 我们的设备能在自动化控制站及机器人手臂的场景上应用。北京段差测量仪器什么价格

STIL光谱共焦传感器可测量各种材质的物体表面。北京微加工表面粗糙度测量仪器

       共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。北京微加工表面粗糙度测量仪器

司逖测量技术（上海）有限公司总部位于金湘路225弄11号1208，是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司。司逖测量拥有一支经验丰富、技术创新的专业研发团队，以高度的专注和执着为客户提供光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器。司逖测量继续坚定不移地走高质量发展道路，既要实现基本面稳定增长，又要聚焦关键领域，实现转型再突破。司逖测量始终关注仪器仪表市场，以敏锐的市场洞察力，实现与客户的成长共赢。