STIL-“线”传感器的相关产品介绍
SCHEMATIC-原理
MP***M包含了180个**的光谱共聚焦通道，每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，针kong和光谱仪。
在MP***M中，控制器和光学头通过两个光纤速连接，第1台束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面；180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。第二束连接光谱仪的输出平面；180根光纤电缆的前列实现了180个通道的针kong。
MP***M光谱共焦传感器
特征：
●市场上第1台台“线”光谱共聚焦传感器，深圳晶圆粗糙度测量测量仪器。
●投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，深圳晶圆粗糙度测量测量仪器，每点对应一条**测量通道
●比较大线率是2000 lines/秒
优势
●高速测量（360000点/秒）
●由于千兆以太网进行数据传输
●高fen辨率，高精度
●可测量任何材料
●对外部环境光线不敏感
●兼容所有光学头
●同步方式：主和从 岱珂机电为客户提供来自于全球先进的在线测量方案，深圳晶圆粗糙度测量测量仪器，提升客户的主要竞争力，并降低客户成本。深圳晶圆粗糙度测量测量仪器
分布式传感是一种可用于同时执行远程空间多个节点上精密测量任务的重要手段，在日常生活、科学研究和工程等领域有着***的应用。量子网络作为量子信息和量子计算的重要组成，在执行各类远程多节点任务中起着重要作用。当对多个空间分布的参量进行测量时，分布式量子传感能够实现超越经典统计极限的测量精度。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。深圳晶圆粗糙度测量测量仪器此系列产品超新技术——颠覆传统激光三角测距法的光谱共焦技术。
配置”线”传感器的MICROMESURE 2系统
2014年产品：配置了MPLS180线传感器MICROMESURE 2
4个光学头可选：Nano View,Micro view,DeepView,WireView
由于MPLS180的高速测量，测量大面积表面的持续时间从几小时降低至几分钟，甚至几秒！
应用类型
• 形状及纹理分析
• 精密机械检测
• 表面特征分析
• 3D高度和厚度，形貌/轮廓
• 粗糙度测量
• 尺寸测量
应用领域
• 机械（粗糙度，摩擦力，3D计量，腐蚀分析...）
• 玻璃行业（浮动玻璃在线厚度检测，3D计量...）
• 微电子（粗糙度，3D计量，缺点分析...）
• 光学（粗糙度，3D计量...）
• 钟表（平整度，粗糙度，厚度...）
• 核燃料工业（粗糙度，摩擦度，3D计量，腐蚀分析...）
• 航空航天（粗糙度，涡轮形状）
选择：
• 后处理软件：来自图像技术的SPIP
• 用于实际3D测量的X&Y轴上的线性编码器（位置精确度=1μm/100mm）
• 录影机
• 用于更换光笔的简单刀塔或双刀塔
• 减震支架
• 1轴和2轴配置
• X&Y轴射程可达300mm（透明工作间不可用）
• Z轴射程可达100mm（透明工作间不可用）
计量工件：
• 校准槽（深度为10μm）
• 粗糙度标准（Ra=0.8μm）
• 光学平面（直径=140mm）
• 位移光罩（用于设置录影机偏移）
上海岱珂机电设备有限公司推出多镜头联动手机外壳检测仪。手机外壳平面度检测仪是由广电检测系统、X轴与Y轴二维移动系统、人机交换系统等几部分构成的光、机、点、控一体化的检测系统。此外，针对手机外壳外观尺寸的检测，上海岱珂机电设备有限公司有手机外壳测量仪。多镜头联动高精度高速测量系统，其利用多个镜头同时拍照，并以光罩技术量测出被测量物的具体尺寸，能在1秒内进行多尺寸的高精度快速测量，并自动显示产品是否合格，为各大产家节省大量用工成本，并大提高了工作效率，此技术已广泛应用在多家国内外大厂所定制的专门使用测量设备中。岱珂机电长期与国内外众多的科研机构及厂家开展广大的合作。
线传感器的相关软件
线传感器需要一台运行WINDOWS7系统，32或64字位、带有USB2.0接口的电脑主机。SDK-CD与传感器一起提供，包含：
●C++动态库母代码
●.NET动态库
●“线传感器示例”程序
●USB驱动
●传感器用户手册和软件用户手册
使用“线传感器”，可完成即时任务：
●连接传感器
●保存且加载配置文件
●改变传感器设置（LED强度，测量频率，触发选项）
●启动测量，观察，保存数据
●执行用户校准
程序已显示模：“线-线”和“图像”。在后一种模式下，每个版块的N行线，显示N*180大小的图像。 岱珂机电充分了解客户实际需求。深圳晶圆粗糙度测量测量仪器
岱珂机电以先进的企业文化，高素质的人才队伍，“以人为本，追求出色”的经营管理理念为基石。深圳晶圆粗糙度测量测量仪器
共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。深圳晶圆粗糙度测量测量仪器
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