STIL-司逖测量技术（上海）有限公司是光谱共焦测量方法，利用色差透镜偏差这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜，延长不同颜色光的焦点光晕范围，形成特殊放大色差，使其根据不同的被测物体到透镜的距离，会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上。通过测量反射光的波长，就可以得到被测物体到透镜的精确距离，深圳非接触测量仪器规格型号，深圳非接触测量仪器规格型号，深圳非接触测量仪器规格型号。这一过程与摄影器材通过各种方法，消减色差的过程正好相反。
为了得到上述特殊的色差，需要在传感器探头内使用若干特殊透镜，用来根据所需量程将光线分解。zui后使用一个凸透镜，将传感器探头射出的光线聚拢在一条轴线上，形成所谓的焦点轴线。如果不使用凸透镜，传感器探头射出的光将分散开来，测量也就无法进行了。
上海岱珂线激光位移传感器已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。深圳非接触测量仪器规格型号
光谱共焦显微镜MC2视觉检测
光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。
STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势
2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView
双重作用：
●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片
●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理
优势：
此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：
●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；
●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0.2X0.2μm²）；
●比较高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。
深圳非接触测量仪器规格型号岱珂人秉持“亲和顾客”的价值规范，紧跟时代步伐。
上海岱珂机电激光位移传感器：此系列产品性能指标达到国际前列水平，测量重复精确度达到0.5um，可实现对国外同类产品的替代。以高效、低成本、模块化的方式为广大客户提供机器视觉的相关解决方案。为集成商提供的全系列一体化3D智能激光视觉传感器产品已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。上海岱珂机电激光位移传感器DK-2100系列产品：•面向电子制造业精密测试需求，Z向测量范围6mm•1500Hz及2500Hz高速采集速率；•满足多种3C产线测试场景需求；•千兆以太网传输；•支持Modbus等输出测量数据；•可与PLC通信；•可直接控制电机。
传感器与通信、计算机被称为现代信息技术的三大支柱和物联网基础，其应用涉及国民经济及**科研的各个领域，是国民经济基础性、战略性产业之一。当前倍受国际关注的物联网、大数据、云计算技术，乃至智慧城市中的各种技术实现，对于传感器技术的需求也是巨大。科技，让人类的能力圈不断扩大。如果说，机械延伸了人类的体力，计算机延伸了人类的智力，那么，无处不在的传感器，大延伸了人类的感知力。上海岱珂机电设备有限公司真诚为你服务，为您提供国内外先进的光谱共焦传感器。岱珂机电致力在平台基础上寻找来自于全球先进的精密测量方案。
物联网时代下，万物皆可相连，细小到每一个需要识别和管理的物体上，都可以安装传感器。传感器技术作为一种感知技术，能够突破人类感知（视觉、听觉、嗅觉、触觉）的极限，得到之前难以获取的海量数据与信息。而对于新闻业来说，隐藏在事物背后的数据有着大量的宝藏，吸引着每一个新闻工作者前赴后继，利用传感器来获得各种形态的新闻。传感器技术应用到新闻传播领域，是近年来的新现象。司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。上海岱珂机电设备有限公司自从2011年成立以来，根据当今国内外现代设备的发展方向为客户提供系统配置方案。深圳非接触测量仪器规格型号
上海岱珂机电设备有限公司为集成商提供的全系列一体化3D智能激光视觉传感器产品。深圳非接触测量仪器规格型号
“点”传感器的相关产品介绍急术语解释：
光斑尺寸(Spot Size):指理论上的光斑尺寸，用于计算聚焦的波长（指示值）。
测量范围（Measuring Range，简称MR）:又叫测量行程，指0到比较大可量测值的区间范围。标定测量范围是针对上述表格中的特定控制器。在降低性能的情况下也可以加大标定的行程。
工作距离（Working Distance，简称WD）：是光学笔前端到量程近端的距离。
比较大采样斜率（Max.Sample slope，简称MSS）：是光轴和样品表面的法线之间的比较大角度，在此角度下测量依然有效。
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