STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，上海高精度3D测量系统传感器，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单，上海高精度3D测量系统传感器。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0，上海高精度3D测量系统传感器.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度） 法国STIL公司开发了从0.1um到100mm测量行程的点光谱共焦传感器这一系列产品。上海高精度3D测量系统传感器
“点”传感器的相关产品介绍急术语解释：
光斑尺寸(Spot Size):指理论上的光斑尺寸，用于计算聚焦的波长（指示值）。
测量范围（Measuring Range，简称MR）:又叫测量行程，指0到比较大可量测值的区间范围。标定测量范围是针对上述表格中的特定控制器。在降低性能的情况下也可以加大标定的行程。
工作距离（Working Distance，简称WD）：是光学笔前端到量程近端的距离。
比较大采样斜率（Max.Sample slope，简称MSS）：是光轴和样品表面的法线之间的比较大角度，在此角度下测量依然有效。
上海高精度3D测量系统传感器岱珂人秉持“亲和顾客”的价值规范，紧跟时代步伐。
近年来色彩视觉变得更加实惠，随着技术的进步和需求的增加，作为彩色成像框架的成像器材的成本正在下降。更快的处理器和设备存储器使机器视觉检测设备能够更快地处理数据，即使使用更 辨率的成像器材。也没有彩色视觉效果好，智能视觉检测设备使用彩色视觉已成为日常检查的实用解决方案。彩色视觉 辨率传感器提供了高质量的彩色图像，超过了几年前单色图像、处理能力、存储和成本的提高使（可负担的色彩技术）成为可能。随着彩色视觉检测设备变得越来越便宜，它们可以在工厂车间更 地部署。
外观检测，检测生产线上产品有无质量问题，该环节也是取代人工多的环节。说机器视觉涉及到的医药领域，其主要检测包括尺寸检测、瓶身外观缺点检测、瓶肩部缺点检测、瓶口检测等。产品识别，利用机器视觉对图像进行处理、分析和理解，以识别各种不同模式的目标和对象。可以达到数据的追溯和采集，在汽车零部件、食品、药品等应用较多。引导和定位，视觉定位要求机器视觉系统能够快速准确的找到被测零件并确认其位置，上下料使用机器视觉来定位，引导机械手臂准确抓取。在半导体封装领域，设备需要根据机器视觉取得的芯片位置信息调整拾取头，准确拾取芯片并进行绑定，这就是视觉定位在机器视觉工业领域基本的应用。是法国STIL、Enovasense、德国Attocube Systeme AG等公司指定代理商。
机器视觉是配备有感测视觉仪器的检测机器，其中光学检测仪器占有比重非常高，可用于检测出各种产品的缺点，或者用于判断并选择出物体，或者用来测量尺寸...等，应用在自动化生产线上对物料进行校准与定位。是计算机视觉中相当有有产业化的部分，主要大量应用于工厂自动化检测及机器人产业等。 机器视觉系统主要由图像的获取、图像的处理和分析、输出或显示三部分组成。主要用计算机软件来模拟人的视觉功能，从客观事物的图像中提取信息，进行处理并**终用于实际检测、测量和控制。产品光斑尺寸低至150微米，令人难以置信的空间精度。上海高精度3D测量系统传感器
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针对市场零件生产越来越趋于精密化，而用人成本不断增高，人工效率及稳定性也不高，误检、漏检比率高。在目前的市场，推出基于机器视觉检测的方法，检测原理是通过CCD工业相机拍照，软件进行图像分析，这种方法 、高速、非接触的检测。例如螺丝螺母对于品质要求极为严格，而且，螺丝螺母的使用量一般都很大，一般都是大批量生产，这时外观检测依靠人工是完全应付不过来的，所以只能采用视觉检测设备来进行品质检测。实现的过程如下，采集图像→图像预处理→轮廓匹配→位置补正→螺纹检测→数据判断→数值显示。上海高精度3D测量系统传感器
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